Сканирующий электронный микроскоп Melytec SM-20
Артикул: SM-20
Melytec SM-20 – современный и доступный по цене сканирующий электронный микроскоп для элементного анализа образцов в материаловедческих лабораториях.
Описание
Melytec SM-20 – современный и доступный по цене сканирующий электронный микроскоп для элементного анализа образцов в материаловедческих лабораториях.
Данная модель микроскопа объединяет современные идеи и многолетний опыт ООО «Мелитэк» в области разработки и производства испытательного оборудования. Прибор изготовлен из высококачественных, точных и надежных комплектующих. Производитель обеспечивает методическую поддержку и техническое обслуживание.
Особенности
- Пучок с высокими токами позволяют качественно проводить анализ элементного состава образца.
- Микроскоп автоматизирован и имеет удобный интерфейс, а все процессы оптимизированы. Благодаря этому, новичок сможет освоить работу с прибором за короткое время.
- Широкое пространство рабочей камеры, большой стол для образцов (грузоподъемность – 5 кг), доступ ко всей камере и система навигации по образцу.
- Простая конструкция микроскопа делает его долговечным и безотказным, а также легким в эксплуатации и техническом обслуживании. Оператор сможет самостоятельно заменить катод и настроить колонну и оптику.
Характеристики
Основные характеристики
-
Функция замедления пучкаНет
-
Наклон, град.Нет
-
Ширина камеры, мм280
-
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.13
-
Детектор вторичных электронов Эверхарта-ТорнлиЕсть
-
ИК-камера для наблюдения положения образца в камереЕсть
-
Навигационная камера высокого разрешенияЕсть
-
Интегрированная система измерения тока лучаНет
-
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)Нет
-
Поворот, град.Нет
-
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм< 5,0
-
Область примененияОбразование. Междисциплинарные научные центры, Материаловедение
-
Ход по оси Z, ммНет
-
Максимальный диаметр образца, мм250
-
Пятиосевой моторизованный предметный столикНет
-
Двухосевой моторизованный предметный столикЕсть
-
Максимальный вес образца, г2000
-
Внутрилинзовый детекторНет
-
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED)Опция
-
МанипуляторОпция
-
Зондовые станцииОпция
-
Панель управления микроскопомОпция
-
ТрекболОпция
-
Столик для охлажденияНет
-
Столик для нагреваОпция
-
Столик для растяжения/сжатияОпция
-
Вакуумный шлюзНет
-
Крио-СЭМОпция
-
ЛитографияНет
-
Детектор прошедших электронов (STEM)Нет
-
Детектор для катодолюминесценции (CL)Нет
-
Детектор RamanНет
-
ДОРЭОпция
-
ВДСНет
-
Высокий вакуум, Па< 5,0 × 10-4
-
Низкий вакуум, ПаНет
-
Безмасляная вакуумная системаНет
-
ЭДСОпция
-
Ход по осям X и Y, мм100 × 100
-
Тип микроскопаСканирующий
-
Направление деятельностиОбразование и обучение, Судебная экспертиза, Автоматизированный анализ частиц и включений, Геология, 2D-анализ
-
Объекты интереса101 нм – 100 мкм
-
Тип катодаТермоэмиссионный (вольфрамовый)