Двулучевой электронный микроскоп Melytec DB-50
Артикул: DB-50
Melytec DB-50 – двулучевой электронный микроскоп с высоким разрешением для анализа свойств материалов в различных условиях экспериментов.
Описание
Melytec DB-50 – двулучевой электронный микроскоп с высоким разрешением для анализа свойств материалов в различных условиях экспериментов.
Благодаря портам для дополнительного оборудования и большому выбору детекторов, данный прибор можно использовать, в том числе, для исследований магнитных образцов, для проведения динамических испытаний на растяжение или сжатие как с нагревом пробы, так и с ее охлаждением.
Данная модель микроскопа объединяет современные идеи и многолетний опыт ООО «Мелитэк» в области разработки и производства испытательного оборудования. Прибор изготовлен из высококачественных, точных и надежных комплектующих. Производитель обеспечивает методическую поддержку и техническое обслуживание.
Особенности
- Работа микроскопа основана на применении катода с термоэлектронной эмиссией с эффектом Шоттки.
- В конструкцию объектива внедрены технологические решения, которые позволили добиться высокого качества картинки и низкой аберрации. При этом ускоряющее напряжение остается низким. Среди таких решений: электромагнитный комбинированный объектив, модернизированный корпус, высоковольтная туннельная технология SuperTunnel, отсутствие магнитной линзы.
- Широкое пространство вакуумной камеры, большой стол для образцов и система навигации по образцу.
- Микроскоп автоматизирован и имеет удобный интерфейс, а все процессы оптимизированы. Благодаря этому, новичок сможет освоить работу с прибором за короткое время.
- Колонна фокусированных ионных пучков (ФИП) с высоким разрешением позволяет получать кросс-секции.
- Опционально возможна установка наноманипулятора, с помощью которого можно изготавливать образцы для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ-образцы) с высокой локализацией исследуемых объектов. В дальнейшем их можно анализировать удаленно с помощью ПЭМ сверхвысокого разрешения или локально методом сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СПЭМ-детектор приобретается отдельно).
- Два режима тока пучка – аналитический и режим высокого разрешения. Быстрое переключение между ними обеспечивается автоматическим переключением регулируемой диафрагмы с магнитным отклонением.
Характеристики
Основные характеристики
-
Функция замедления пучкаЕсть
-
Наклон, град.–10/+90
-
Ширина камеры, мм340
-
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.13
-
Детектор вторичных электронов Эверхарта-ТорнлиЕсть
-
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере2
-
Навигационная камера высокого разрешенияЕсть
-
Интегрированная система измерения тока лучаЕсть
-
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)Нет
-
Поворот, град.360
-
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм< 2,0
-
Ход по оси Z, мм50
-
Максимальный диаметр образца, мм270
-
Пятиосевой моторизованный предметный столикЕсть
-
Двухосевой моторизованный предметный столикНет
-
Максимальный вес образца, г5000
-
Внутрилинзовый детекторЕсть
-
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED)Опция
-
МанипуляторОпция
-
Зондовые станцииОпция
-
Панель управления микроскопомОпция
-
ТрекболОпция
-
Столик для охлажденияОпция
-
Столик для нагреваОпция
-
Столик для растяжения/сжатияОпция
-
Вакуумный шлюзОпция
-
Крио-СЭМОпция
-
ЛитографияОпция
-
Детектор прошедших электронов (STEM)Опция
-
Детектор для катодолюминесценции (CL)Опция
-
Детектор RamanОпция
-
ДОРЭОпция
-
ВДСОпция
-
Высокий вакуум, Па< 5,0 × 10-6
-
Низкий вакуум, ПаНет
-
Безмасляная вакуумная системаЕсть
-
ЭДСОпция
-
Ход по осям X и Y, мм120 × 115
-
Тип микроскопаДвулучевой
-
Тип катодаТермополевой катод типа Шоттки